Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM)

Synonym

  • Prozessrasterelektronenmikroskop

Definition

  • Begriff für Rasterelektronenmikroskope, bei denen im Probenraum ein im Vergleich zu konventionellen Geräten deutlich geringeres Vakuum anliegt, so dass dort auch vakuumempfindliche Proben untersucht werden können.

Bemerkungen

  • Bei ESEM-Geräten findet nur die Elektronenstrahlerzeugung im Hochvakuum statt. Das Vakuum in der Probenkammer ist deutlich niedriger.
  • Der Druck in der elektronenoptischen Säule, in der die Strahlmanipulation stattfindet, sollte für eine gute Auflösung möglichst niedrig gehalten werden.
  • Auch die Strecke, die die Elektronen in der Probenkammer zur Probe und zum Detektor zurücklegen müssen, sollte so kurz wie möglich sein.
  • In der Probenkammer vorhandenes Restgast, wirkt als Oszillator und Verstärker des erhaltenen Signals. Allerdings führt es auch zu einer Signalstreuung und somit schlechteren Auflösung.
  • Eine Beschichtung (Sputtern) der Proben ist nicht notwendig, da bei den eingesetzten Strahlströmen keine Ladungseffekte auftreten.
  • Anwendungsgebiete von ESEMs sind z.B. die Beobachtung von lebenden Zellen und feuchten Proben (Lösungsvorgänge, Kristallwachstum). Für letztere können in guten ESEMs Temperatur, Druck und Luftfeuchtigkeit in der Probenkammer variiert werden.
  • Je nach geforderten Versuchsbedingungen kann die Probenkammer auch mit Gasen z.B. Argon, CO2, Stickstoff gefüllt werden um die vorhandene Luft zu ersetzen.
 

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