Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM)
Synonym
- Prozessrasterelektronenmikroskop
Definition
- Begriff für Rasterelektronenmikroskope,
bei denen im Probenraum ein im Vergleich zu konventionellen Geräten
deutlich geringeres Vakuum anliegt, so dass dort auch vakuumempfindliche
Proben untersucht werden können.
Bemerkungen
- Bei ESEM-Geräten findet nur die Elektronenstrahlerzeugung im Hochvakuum
statt. Das Vakuum in der Probenkammer ist deutlich niedriger.
- Der Druck in der elektronenoptischen Säule, in der die Strahlmanipulation
stattfindet, sollte für eine gute Auflösung möglichst niedrig gehalten
werden.
- Auch die Strecke, die die Elektronen in der Probenkammer zur Probe und zum
Detektor zurücklegen müssen, sollte so kurz wie möglich sein.
- In der Probenkammer vorhandenes Restgast, wirkt als Oszillator und Verstärker
des erhaltenen Signals. Allerdings führt es auch zu einer Signalstreuung
und somit schlechteren Auflösung.
- Eine Beschichtung (Sputtern) der Proben ist nicht notwendig, da bei den
eingesetzten Strahlströmen keine Ladungseffekte auftreten.
- Anwendungsgebiete von ESEMs sind z.B. die Beobachtung von lebenden Zellen
und feuchten Proben (Lösungsvorgänge, Kristallwachstum). Für letztere
können in guten ESEMs Temperatur, Druck und Luftfeuchtigkeit in der
Probenkammer variiert werden.
- Je nach geforderten Versuchsbedingungen kann die Probenkammer auch mit
Gasen z.B. Argon, CO2, Stickstoff gefüllt werden um die
vorhandene Luft zu ersetzen.
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